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DFT可测试性设计

  • 创建者:ralfzhao
  • 创建时间:2012-02-15 00:55
  • 修改时间:2012-02-15 00:55
  • 介绍:集成电路测试和可测试性设计（DFT）方面相关论文
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深亚微米集成电路可测性设计及其综合的研究112 p
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  • 上传人: Hemuchengxi
  • 2011-05-12 19:57
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  • 上传人: qqq09668
  • 2011-01-24 21:35
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