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《The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing》_中文版C.doc
第二章.半导体测试基础三．测试系统测试系统称为ATE，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式（pattern）生成器和其他硬件项目的集合体，用于模仿被测器
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The_Fundamentals_of_Digital_Semiconductor_Testing_(chinese).doc
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半导体物理器件英文第三版 施敏Physics_of_Semiconductor_Devices-3.pdf
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