灯具结温+热成像+热阻实验方案
本文档由 luxiaogui1981 分享于2014-09-04 11:43
1、 无损伤检测灯具LED芯片的结温：（1） 实验名称：无损伤测试LED灯具芯片PN结温度（2） 实验目的：检验灯具的散热性能，直接评估灯具寿命（3） 实验仪器：MicRed T3Ster （这台仪器价值140万，国际公认最精密）（4） 实验原理：芯片的温度与电压是成一定的比例变动的，MicRed T3Ster用大量的修正函数，确保数值无限接近温度绝对值。（5） 实验内容：在指定环境温度之下，在指定电流情况之下。点亮LED灯具2个小时，使得..
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