半导体封装测试概论

本文档由 考研资料 分享于2009-03-31 02:16

晶圆级封装(wafer level CSP) Balls pad open & Solder bumping Wafer level final testing Process Flow Wafer incoming CONFIDENTIAL Process Flow BCB coating Sputter Ti/Cu CONFIDENTIAL Process Flow CONFIDENTIAL PR coating Cu / Ni...
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封装 半导体 wafer 概论 level Process Tester CSP Memory final
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半导体封装 概论 wafer 晶圆级封装 tester 晶片
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